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Bright F系列食品級X射線設(shè)備

Bright F系列食品級X射線設(shè)備

Bright F系列食品級X射線設(shè)備

● 用于檢測食品、藥品、半導體等中的異物和缺陷。

該設(shè)備為產(chǎn)品缺陷檢測提供了X射線系統(tǒng)。

所有零件的本地化(自行開發(fā)),降低了X射線設(shè)備和維護的成本。

演示視頻

技術(shù)特點



食品 X射線檢查設(shè)備

- 食品異物、醫(yī)藥異物等入門級高性能X射線檢查設(shè)備。

- 可進行大(高度/寬度)檢查的高功率X射線檢查設(shè)備。

- 先進的X射線成像技術(shù)。

- 與所有類型的輸送機系統(tǒng)聯(lián)動(可與定制的分離設(shè)備連接)。

- 可移動設(shè)計,易于在有限的空間內(nèi)移動和安裝。


食品 X射線檢查設(shè)備

- 用于產(chǎn)品缺陷檢測的X射線系統(tǒng)

- 人性化的軟件操作    - 遠程程序安裝

- 數(shù)據(jù)可以用作每小時,每天,每周和每月的報告

- 通過記錄測試結(jié)果歷史記錄來實現(xiàn)數(shù)據(jù)收集

- 監(jiān)視設(shè)施狀況以分析和報告問題(ERP支持)


檢查圖像/標記圖像


技術(shù)參數(shù)

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